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대면적 콤프턴 카메라를 이용한 구조물 내 방사성 오염의 정량 분석 기술 개발
Development of Quantitative Analysis for Internal Contamination by Using Large-Area Compton Camera
- 이현수;
- 김재현;
- 이준영;
- 김찬형
키워드
대면적 콤프턴 카메라; 내부 오염; 방사능 추정; 정량 분석; Geant4
- 제목
- 대면적 콤프턴 카메라를 이용한 구조물 내 방사성 오염의 정량 분석 기술 개발
- 제목 (타언어)
- Development of Quantitative Analysis for Internal Contamination by Using Large-Area Compton Camera
- 저자
- 이현수; 김재현; 이준영; 김찬형
- 발행일
- 2019-04
- 유형
- Proceeding
- 저널명
- 대한방사선방어학회 2019년 춘계학술발표회
- 페이지
- 317 ~ 318