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Axially Perpendicular Offset Raman measurement for Direct Quantitative Analysis of Contained Samples
- 제목
- Axially Perpendicular Offset Raman measurement for Direct Quantitative Analysis of Contained Samples
- 저자
- 정회일
- 발행일
- 2016-09-20
- 학회명
- SciX 2016
- 개최지
- Minneapolis, USA