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Investigation of Reliability of Inverse-Mode Silicon-Germanium Heterojunction Bipolar Transistor
- 제목
- Investigation of Reliability of Inverse-Mode Silicon-Germanium Heterojunction Bipolar Transistor
- 저자
- 송익현
- 발행일
- 2024-08-23
- 학회명
- 한국전자파학회 하계학술대회
- 개최지
- 평창 강원도