비정질 Chalcogenide 박막의 구조적 광학적 특성분석

초록

Chalcogenide계 비정질 재료는 비선형광학특성을 보이는 것으로 알려져 있다. 진공증착된 chalcogenide계 박막의 열처리 전후의 물성을 분석하고자 z-scan법을 이용하여 비선형 광특성을 측정하였다. 증착 직후의 3차비선형광학계수는 10-4 esu였다. 또 RBS, FTIR, Raman spectroscopy를 이용하여 조성과 구조적 분석을 시행하였다.