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터널링 산화막의 두께 변화에 따른 charge trap flash 메모리 소자의 retention 특성 메카니즘

  • 김태환
제목
터널링 산화막의 두께 변화에 따른 charge trap flash 메모리 소자의 retention 특성 메카니즘
저자
김태환
발행일
2010-04-21
학회명
2010년 한국 물리학회 봄 학술논문발표회
개최지
대전컨벤션센터, 대전, Korea

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