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고 에너지 전자빔 조사된 n+-p와 n형 GaN의 결함구조 분석

  • 김은규
제목
고 에너지 전자빔 조사된 n+-p와 n형 GaN의 결함구조 분석
저자
김은규
발행일
2008-01-14
학회명
2nd Workshop on the Advanced Technologies of Nitride Semiconductors
개최지
나노특화팹센터

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(04763) 서울특별시 성동구 왕십리로 222 Tel. +82-2-2220-1370 +82-2-2220-1366

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