CZT 표면상태 및 검출기 성능 상관관계에 대한 연구

초록

CZT는 현재 널리쓰이고 있는Si,Ge,등 단워자 반도체나 섬광체를 대체할수 있는 검출기 소재로 평가되고있다. 이전 연구자들의 연구결과에 의하면 CZT 표면을 물리적 polishing 및 화학적 에칭에 의하여 roughness 를 작게 할수록 CZT 계측기의 dark current 가 작아져서 방사선 검출의성능이 향상된다고 알려져 있다. 본연구진은 CZT 단결정에 물리적 polishing 과 화학적 에칭으로 표면상태를 다르게 하였을때 표면상태에 따른 방사선 에너지의 스펙트럼 변화를 살펴보았다.