ScholarWorks@한양대학교
조직
연구자
연구성과
저널
English
상세 보기
작은 샘플 크기의 One-shot Devices를 위한 베이지안 신뢰도 추정
배석주
Citation
APA
CHICAGO
MLA
VANCOUVER
IEEE
HARVARD
Export
XML (DC)
EXCEL
제목
작은 샘플 크기의 One-shot Devices를 위한 베이지안 신뢰도 추정
저자
배석주
발행일
2013-05-24
학회명
한국경영과학회/대한산업공학회 춘계공동학술대회
개최지
여수
더보기