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Investigation of Device- and Circuit-level Reliability of Silicon-Germanium Heterojunction Bipolar Transistors (SiGe HBT)
- 제목
- Investigation of Device- and Circuit-level Reliability of Silicon-Germanium Heterojunction Bipolar Transistors (SiGe HBT)
- 저자
- 송익현
- 발행일
- 2023-06-26
- 학회명
- ITC-CSCC2023
- 개최지
- 제주시 그랜드하얏트