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- 제목
- Effect of the trap distribution of the silicon-nitride layer on the retention characteristics of charge trap flash memory devices
- 저자
- 김태환
- 발행일
- 2012-08-16
- 학회명
- The 10th international nanotech symposium & Nano-Convergence Expo (NANO KOREA 2012)
- 개최지
- Coex, Seoul