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Applying XAI to Fault Detection and Classification for Semiconductor Manufacturing Processes
- Lee, Jongsoo;
- Park, Byeongtae;
- Chae, Dong Kyu
- 제목
- Applying XAI to Fault Detection and Classification for Semiconductor Manufacturing Processes
- 저자
- Lee, Jongsoo; Park, Byeongtae; Chae, Dong Kyu
- 발행일
- 2022-11
- 유형
- Proceeding
- 저널명
- Korean International Semiconductor Conference on Manufacturing Technology (KISM) 2022
- 페이지
- 352 ~ 352
- 언어
- ENG
- 출판사
- 한국반도체디스플레이기술학회
- 발행국가
- 대한민국
- 분량
- 1 페이지