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멀티 레벨 셀 NAND 플래시 메모리의 셀 간 간섭 영향을 감소시키기 위한 문턱 전압 제어 방법
The Threshold Voltage Control Method for Mitigating Cell-to-Cell Interference in Multi-Level Cell NAND Flash Memory
- 이형간;
- 김성래;
- 이명규;
- 공준진;
- 신동준
초록
논문은 2-비트 4-레벨 셀 NAND 플래시 메모리에서 발생하는 인접 셀 간섭으로 인한 심벌 오류를 낮추기 위한 문턱 전압 제어 기법을 소개한다. 특정 셀의 프로그램 상태의 전압 분포를 가우시안 mixture로 가정하고, 인접 셀 간섭을 확률 모델링한다. 확률 모델을 이용하여 셀 간섭이 발생한 후의 문턱 전압을 우도(likelihood) 함수를 이용하여 찾아 문턱 전압 제어에 이용하여 셀 간섭 후 발생하는 오류를 최소화 한다.
- 제목
- 멀티 레벨 셀 NAND 플래시 메모리의 셀 간 간섭 영향을 감소시키기 위한 문턱 전압 제어 방법
- 제목 (타언어)
- The Threshold Voltage Control Method for Mitigating Cell-to-Cell Interference in Multi-Level Cell NAND Flash Memory
- 저자
- 이형간; 김성래; 이명규; 공준진; 신동준
- 발행일
- 2012-11
- 유형
- Proceeding
- 저널명
- 한국통신학회 추계종합학술발표회
- 페이지
- 79 ~ 80