상세 보기
In-situ TEM Investigation of Electric-Field-Induced Phase Evolution Mechanism in HfO2-based Thin Films
- 제목
- In-situ TEM Investigation of Electric-Field-Induced Phase Evolution Mechanism in HfO2-based Thin Films
- 저자
- 이승용
- 발행일
- 2025-11-07
- 학회명
- 제4회 2025 한국표면분석학회 종합학술대회
- 개최지
- 대전 KW컨벤션 센터