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Contact Resistivity Reduction in IGZO/Metal Interfaces via Ultra-Thin SiO2 Layers: Comparative Analysis Using TLM and CBKR
- 제목
- Contact Resistivity Reduction in IGZO/Metal Interfaces via Ultra-Thin SiO2 Layers: Comparative Analysis Using TLM and CBKR
- 저자
- 박진성
- 발행일
- 2025-06-04
- 학회명
- IEEE IITC 2025
- 개최지
- 부산 웨스틴조선호텔