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Grad-CAM(Gradient-Class Activation Map)을 이용한 웨이퍼 빈 맵 복합 불량 패턴 분해

제목
Grad-CAM(Gradient-Class Activation Map)을 이용한 웨이퍼 빈 맵 복합 불량 패턴 분해
저자
배석주
발행일
2021-05-21
학회명
2021년 한국품질경영학회 춘계학술대회
개최지
온라인

ScholarWorks@한양대학교

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