ScholarWorks@한양대학교
조직
연구자
연구성과
저널
English
상세 보기
Effect of Oxide-Nitride-Oxide Thickness on Coupling Ratio and Back Tunneling in NAND Flash Memories
박재근
Citation
APA
CHICAGO
MLA
VANCOUVER
IEEE
HARVARD
Export
XML (DC)
EXCEL
제목
Effect of Oxide-Nitride-Oxide Thickness on Coupling Ratio and Back Tunneling in NAND Flash Memories
저자
박재근
발행일
2017-10-25
학회명
2017 가을 학술논문발표회 및 임시총회(2017 KPS Fall Meeting)
개최지
경주화백컨벤션센터
더보기