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RISC-V Integrated Nested Loop Analyzer for Runtime DRAM Test Pattern Generation
- 제목
- RISC-V Integrated Nested Loop Analyzer for Runtime DRAM Test Pattern Generation
- 저자
- 김지훈
- 발행일
- 2025-09-29
- 학회명
- CODES+ISSS 2025
- 개최지
- Taipei International Convention Center (TICC)