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The Effects of Deuterium Annealing Pressure on P-type Si TFET with ALD HfAlOx and HfO2 Gate Dielectrics
- 제목
- The Effects of Deuterium Annealing Pressure on P-type Si TFET with ALD HfAlOx and HfO2 Gate Dielectrics
- 저자
- 최창환
- 발행일
- 2017-02-15
- 학회명
- 한국반도체학술대회
- 개최지
- 대명 비발디파크, 대한민국