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Communications in Statistics Part B: Simulation and Computation
ISSN
P 0361-0918 E 1532-4141
출판사
Dekker Taylor & Francis
국가
USA
발행 상태
활성
데이터베이스 수록 정보
JCR 1997-2019 (23년)
SCIE 2010-2021 (12년)
Scopus 2017-2020 (4년)
SJR 1999-2019 (21년)
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2025
Article
RISC-V Integrated Nested Loop Analyzer for Runtime DRAM Test Pattern Generation
- Kim, Saeyeon ;
- Park, Sunyoung ;
- Kim, Nahyeon ;
- Lee, Jiyoung ;
- Kim, Ji-Hoon
- 2025-10
- IEEE Embedded Systems Letters
- IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC